Publications
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Interplay between segregation, roughness and local strains in the growth of Ga0.75In0.25P alloy
X. Wallart, C. Priester, D. Deresmes, F. Mollot
Applied Physics Letters, 2000, 77, pp.253-255. ⟨hal-00158232⟩
Etude de nouveaux bioverres à base de silice
I. Lebecq, F. Desanglois, Michel Descamps, Claudine Follet-Houttemane, Edouard Radziszewski, L. Montagne, G. Palavit
Groupe Français de la Céramique, 2000, Maubeuge, France. ⟨hal-00159083⟩
Charge control and electron transport properties in InyAl1-yAs/InxGa1-xAs metamorphic HEMTs : effect of indium content
Y. Cordier, M. Zaknoune, S. Bollaert, A. Cappy
2000, pp.102-105. ⟨hal-00158437⟩
Design optimisation of ultra-short gate HEMTs using Monte Carlo simulation
J. Mateos-Lopez, T. Gonzalez, D. Pardo, Virginie Hoel, S. Bollaert, A. Cappy
2000, pp.624-627. ⟨hal-00157877⟩
Intégration silicium à l'IEMN : de l'architecture de composants aux circuits radiofréquences
Emmanuel Dubois, V. Senez, Gilles Dambrine, A. Kaiser
Journée Thématique de l'ANRT sur l'Intégration, 2000, Paris, France. ⟨hal-00158505⟩
Nonlinear mode of parametric ultrasonic phase conjugation. Numerical approach
S. Ben Khelil, A. Merlen, Vladimir Preobrazhensky, Philippe Pernod
2000, pp.569-572. ⟨hal-00158461⟩
Mémoires électroniques du futur : évolution de la microélectronique silicium
Emmanuel Dubois
Fête de la Science, 2000, Lille, France. ⟨hal-00158535⟩
Contribution à la modélisation micro-ondes de photo-détecteurs PIN distribués
A. Muhammad
2000. ⟨hal-00158550⟩
Strain mapping of V-groove InGaAs/GaAs strained quantum wires using cross sectional Atomic Force Microscopy
F. Lelarge, C. Priester, C. Constantin, A. Rudra, K. Leifer, E. Kapon
Applied Surface Science, 2000, 166, pp.290-294. ⟨hal-00158661⟩
Polyimid resist as infrared absorbing layer for radiation microsensors
K. Ziouche, P. Godts, D. Leclercq
Sensors and Materials, 2000, 12, pp.445-454. ⟨hal-00158488⟩