Publications
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Fabrication and analysis of CMOS fully-compatible high conductance impact-ionization MOS (I-MOS) transistors
C. Charbuillet, Emmanuel Dubois, S. Monfray, P. Bouillon, T. Skotnicki
2006, pp.299-302. ⟨hal-00138680⟩
Mechanical properties measured by nanoindentation of Pb(Zr,Ti)O3 sol-gel films deposited on Pt and LaNiO3 electrodes
P. Delobelle, G.S. Wang, E. Fribourg-Blanc, Denis Remiens
Surface and Coatings Technology, 2006, 201, pp.3155-3162. ⟨hal-00138714⟩
Resonant transmission in stop bands of acoustic waves in periodic structures
Jean-Etienne Lefebvre, V. Zhang, Tadeusz Gryba
Ultrasonics, 2006, 44, pp.899-904. ⟨hal-00138602⟩
L'acoustique picoseconde : un outil de métrologie mécanique de couches minces appliqué à la microéléctronique
P. Emery, Arnaud Devos
10èmes Journées de la Matière Condensée, JMC10, 2006, Toulouse, France. ⟨hal-00126497⟩
Acoustique picoseconde : une acoustique riche en couleurs
Arnaud Devos
10èmes Journées de la Matière Condensée, JMC10, 2006, Toulouse, France. ⟨hal-00126499⟩
The major role of thermodynamics in the comprehension of 1D structures growth
D. Hourlier, P. Perrot
Trends in Materials and Nanosciences, TMN 2006, 2006, Strasbourg, France. ⟨hal-00243988⟩
Etude préliminaire sur la synthèse des poudres nanométriques : rôle de l'écoulement dans le réacteur
Mohamed Amara, M. El Ganaoui, D. Bahloul-Hourlier
Mechanics & Industry, 2006, 7, pp.131-137. ⟨10.1051/meca:2006027⟩. ⟨hal-00243989⟩
Influence des conditions climatiques sur les capteurs textiles à base de matériau conducteur nano composite
C. Cochrane, V. Koncar, M. H. Lewandowski, J. Belloncle, C. Dufour
Matériaux 2006, 2006, Dijon, France. ⟨hal-00243999⟩
MEMS electromechanical resonators for RF applications
F. Casset, C. Durand, N. Abele, K. Segueni, L. Buchaillot, A.M. Ionescu, P. Ancey
16ème Forum de l'Interconnexion et du Packaging Microélectronique, INTERCONEX 2006, 2006, Besançon, France. ⟨hal-00244017⟩
Broadband nulling interferometry for weak multipath signal detection
A. Benlarbi-Delaï, Michael Bocquet, Christophe Loyez
Electronics Letters, 2006, 42, pp.435-436. ⟨hal-00126794⟩