Publications

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  • Communication dans un congrès

Double-gate HEMTs on transferred substrate

Nicolas Wichmann, I. Duszynski, T. Parenty, S. Bollaert, J. Mateos, X. Wallart, A. Cappy

2003, pp.118-121. ⟨hal-00145995⟩

  • Article dans une revue

Ballistic nanodevices for terahertz data processing : Monte Carlo simulations

J. Mateos, B.G. Vasallo, D. Pardo, T. Gonzales, Yannick Roelens, S. Bollaert, A. Cappy

Nanotechnology, 2003, 14, pp.117-122. ⟨hal-00145979⟩

  • Article dans une revue

Lead Zirconate Titanate (PZT) Films Deposited by a Hydrothermal Method

Sébastien Euphrasie, Sylvie Daviero-Minaud, Philippe Pernod

Solid State Sciences, 2003, 5 (11-12), pp.1499-1504. ⟨hal-00258427⟩

  • Communication dans un congrès

Nonlinear electron transport in InGaAs/InAlaS ballistic devices

Benoit Hackens, L. Gence, Sébastien Faniel, Cédric Gustin, Hervé Boutry, Lukasz Bednarz, Isabelle Huynen, Vincent Bayot, X. Wallart, A. Cappy, Javier Mateos, Tomás González

Trends in NanoTechnology, TNT 2003, Sep 2003, Salamanca, Spain. ⟨hal-00146041⟩

  • Article dans une revue

MBE growth of AlGaN/GaN HEMTs on resistive Si (111) substrate with RF small signal and power performances

Y. Cordier, F. Semond, P. Lorenzini, N. Grandjean, F. Natali, B. Damilano, J. Massies, Virginie Hoel, A. Minko, N. Vellas, Christophe Gaquière, Jean-Claude de Jaeger, B. Dessertenne, S. Cassette, Et Al.

Journal of Crystal Growth, 2003, 251, pp.811-815. ⟨hal-00146661⟩

  • Article dans une revue

Influence on the step covering on fatigue phenomenon for polycrystalline silicon MEMS

O. Millet, Bernard Legrand, D. Collard, L. Buchaillot

Japanese Journal of Applied Physics, 2003, 41, pp.L1339-L1341. ⟨hal-00146435⟩

  • Communication dans un congrès

LP-MOCVD growth of GaAlN/GaN heterostructures on silicon carbide

Marie-Antoinette Di Forte-Poisson, Maurice Tordjman, A. Romann, M. Magis, Raphaël Aubry, Sylvain Laurent Delage, J. Di Persio, B. Grimbert, Christophe Gaquière

Proceedings of the Fifth International Conference on Nitride Semiconductors, ICNS-5, 2003, Nara, Japan. ⟨hal-00146685⟩

  • Article dans une revue

Feedback of MEMS reliability study on the design stage : a step toward reliability aided design (RAD)

L. Buchaillot

Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1919-1928. ⟨hal-00146437⟩

  • Communication dans un congrès

Non-linear phenomenological model for RF advanced MOSFET

A. Siligaris, Gilles Dambrine, Sylvie Lepilliet, D. Schreurs, Francois Danneville

European IC-CAP User Meeting, 2003, Prague, Czech Republic. ⟨hal-00146016⟩

  • Communication dans un congrès

Etude physique du phénomène de claquage par avalanche dans les transistors à effet de champ

M. Elkhou, Michel Rousseau, Jean-Claude de Jaeger

2003, pp.2D-21. ⟨hal-00146663⟩

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