Publications

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  • Communication dans un congrès

TEM characterisation of accumulation low Schottky barrier MOSFET with PtSi contacts

A. Laszcz, J. Katcki, J. Ratajczak, A. Czerwinski, Emmanuel Dubois, G. Larrieu, X. Wallart

School on Materials Science and Electron Microscopy, Microscopy of Tomorrow's Industrial Materials, 2005, Berlin, Germany. ⟨hal-00138408⟩

  • Communication dans un congrès

Schottky-barrier source-drain architecture for ultimate CMOS

Emmanuel Dubois, G. Larrieu, N. Breil, Xing Tang, N. Recklinger, V. Bayot, J. Knoch

SINANO Workshop, 2005, Grenoble, France. ⟨hal-00138409⟩

  • Communication dans un congrès

Simple plasmon multiplexer

L. Dobrzynski, Maxime Beaugeois, Abdellatif Akjouj, Bahram Djafari-Rouhani, Jerome O. Vasseur, Yan Pennec, Mohamed Bouazaoui, Jean-Pierre Vilcot, Sophie Maricot, J.P. Vigneron

International Symposium on Photons and Phonons in Solids, 2005, Puebla, Mexico. ⟨hal-00130839⟩

  • Communication dans un congrès

Sommation optique de signaux hyperfréquences

G. Ulliac, Jean-Pierre Vilcot, Didier Decoster, J. Chazelas

TELECOM'2005 & 4èmes Journées Franco-Maghrébines des Microondes et leurs Applications, 2005, Rabat, Maroc. ⟨hal-00130840⟩

  • Communication dans un congrès

On the analysis of four symmetrical interconnects for signal integrity evaluation

Freddy Ponchel, Jean-François Legier, Erick Paleczny, Christophe Seguinot, Denis Deschacht

2005, pp.145-147. ⟨hal-00162804⟩

  • Communication dans un congrès

Simulation de formes d'ondes ULB dans un modèle de canal en tunnel

H. Saghir, M. Heddebaut, Fouzia Boukour

Actes du GDR Ondes, groupe ULB, 2005, Grenoble, France. ⟨hal-00126754⟩

  • Article dans une revue

Trichlorosilane isocyanate as coupling agent for mild conditions functionalization of silica-coated surfaces

N. Ardes-Guisot, J.O. Durand, M. Granier, A. Perzyna, Yannick Coffinier, B. Grandidier, X. Wallart, D. Stievenard

Langmuir, 2005, 21, pp.9406-9408. ⟨10.1021/la051256r⟩. ⟨hal-00126430⟩

  • Communication dans un congrès

Semiconductor surface reconstructions of the Si(100) surface at 5K

A. Urbieta, B. Grandidier, J.P. Nys, D. Deresmes, D. Stiévenard

52nd International Symposium and Exhibition of the American Vacuum Society, AVS-52, 2005, Boston, MA, United States. ⟨hal-00126447⟩