Publications
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Low field anisotropic magnetostriction of single domain exchange-coupled (TbFe/Fe) multilayers : static and dynamical properties
Henri Le Gall, Jamal Ben Youssef, F. Socha, Nicolas Tiercelin, Vladimir Preobrazhensky, Philippe Pernod
Journal of the Magnetics Society of Japan, 2001, 25, pp.258-262. ⟨10.1063/1.372521⟩. ⟨hal-00152099⟩
Optical properties of boron nitride thin films deposited by microwave PECVD
A. Soltani, P. Thevenin, A. Bath
Materials Science and Engineering: B, 2001, B82, pp.170-172. ⟨hal-00152599⟩
Non-linear noise in high-frequency devices
Francois Danneville, A. Cappy, Olivier Llopis
16th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations, ICNF 2001, 2001, Gainesville, FL, United States. ⟨hal-00151774⟩
Synthesis of hexagonal boron nitride thin films by a plasma assisted chemical vapour deposition method
P. Thevenin, A. Soltani, A. Bath
Journal de Physique IV Proceedings, 2001, 11, pp.803-810. ⟨hal-00152634⟩
Méthode numérique pour l'acoustique impulsionnelle en milieux hétérogènes
A. Merlen, L. Derbesse, P. Voinovich, Philippe Pernod
Groupe d'Etudes sur la Propagation Acoustique, GESPA : Deuxièmes Journées sur l'Acoustique de Galbrun, 2001, Arcachon, France. ⟨hal-00152128⟩
Cymbal and BB underwater transducers and arrays
R.E. Newnham, J. Zhang, S. Alkoy, R.J. Meyer, W.J. Hughes, Anne-Christine Hladky, J. Cochran, D.C. Markley
2001, pp.CD-ROM. ⟨hal-00151691⟩
Ka band power pHEMT technology for space power flip-chip assembly
E. Rogeaux, J.P. Fraysse, C. Schaffauser, S. George, D. Pons, P. Fellon, D. Geiger, D. Theron, N. Haese, Serge Verdeyme, R. Quere, Dominique Baillargeat, E. Ngoya, S. Long, Laurent Escotte
2001, pp.1895-1898. ⟨hal-00152621⟩
Etude de l'effet de la topologie sur l'ionisation par impact à l'aide de mesures d'électroluminescence
Christophe Gaquière, B. Boudart, P.A. Dhamelincourt
8èmes Journées Nationales Microélectronique et Optoélectronique, JNMO 2001, 2001, Aussois, France. ⟨hal-00152675⟩
Elasto-plastic modeling of microelectronics materials for accurate prediction of the mechanical stresses in advanced silicon technologies
V. Senez, T. Hoffmann
2001, pp.58-61. ⟨hal-00152209⟩