Publications
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Characterization of surface cracks in metals by microwave techniques
D. Glay, T. Lasri
GREEN R.E. JR., DJORDJEVIC B.B., HENTSCHEL M.P. Nondestructive characterization of materials XI, Springer Verlag, pp.345-352, 2003. ⟨hal-00132310⟩
Les Interconnexions cuivre sont-elles un verrou technologique majeir pour les circuits ULSI du futur utilisant la technologie ultime ? Analyse électromagnétique et performances
K. El Bouazzati, Jean-François Legier, Erick Paleczny, Christophe Seguinot, Denis Deschacht
Telecom et JFMMA, 2003, Marrakech, Maroc. ⟨lirmm-00269827⟩
Sub 0.1 µm – InP based HEMTs for high power and high frequency
D. Theron, F Medjdoub, M. Zaknoune, X. Wallart, F. Dessenne, R. Fauquembergue, Jean-Claude de Jaeger
Workshop on Compound Semiconductor Materials and Devices, WOCSEMMAD 2003, 2003, Atlanta, GA, United States. ⟨hal-00146719⟩
Realization of waveguiding epitaxial GaN layers on Si by low-pressure metalorganic vapor phase epitaxy
H.P.D. Schenk, E. Feltin, M. Laugt, O. Tottereau, P. Vennegues, El Hadj Dogheche
Applied Physics Letters, 2003, 83, pp.5139-5141. ⟨hal-00162728⟩
Dispositifs optoélectroniques basés sur des matériaux organiques : conception, fabrication et caractérisation
M. Berliocchi
2003. ⟨hal-00162731⟩
Etude et réalisation d'un système radar coopératif destiné aux systèmes de transports guidés
B. Fremont
2003. ⟨hal-00162744⟩
Modélisation d'Interconnexions Cuivre Submicroniques VLSI en Présence des Niveaux Environnants à Pertes
K. El Bouazzatti, Jean-François Legier, Erick Paleczny, Christophe Seguinot, Denis Deschacht
13èmes Journées Nationales Microondes, May 2003, Lille, France. ⟨lirmm-00269550⟩
Low frequency drain noise comparison of AlGaN/GaN HEMTs grown on silicon, SiC and sapphire substrates
A. Curutchet, N. Malbert, N. Touboul, Christophe Gaquière, A. Minko, M. Uren
Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1713-1718. ⟨hal-00146665⟩
Optical transitions in few-electron artificial atoms strongly confined in ZnO nanocrystals
Alexander Germeau, Aarnoud L. Roest, Daniel Vanmaekelbergh, Guy Allan, Christophe Delerue, Eric A. Meulenkamp
Physical Review Letters, 2003, 90, pp.097401/1-4. ⟨10.1103/PhysRevLett.90.097401⟩. ⟨hal-00146610⟩
About the measurements of the d33 piezoelectric coefficient of the PZT film-Si/SiO2/Ti/Pt substrates using an optical cryostat
J. Nosek, L. Burianova, M. Sulc, Caroline Soyer, Eric Cattan, Denis Remiens
Ferroelectrics, 2003, 292, pp.103-109. ⟨hal-00146464⟩