Publications
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Angle of arrival measurement using ultra fast transient analyzer and music algorithm
A. Benlarbi-Delai, N. Rolland-Haese, A. Ghis, P.A. Rolland
Microwave and Optical Technology Letters, 2004, 41, pp.141-144. ⟨hal-00133924⟩
InAlAs-InGaAs double-gate HEMTs on transferred substrate
Nicolas Wichmann, I. Duszynski, X. Wallart, S. Bollaert, A. Cappy
IEEE Electron Device Letters, 2004, 25, pp.354-356. ⟨hal-00133868⟩
Novel 2D micronib ionization sources for nano electrospray-mass spectrometry (ESI-MS)
S. Le Gac, C. Rolando, S. Arscott
Thermal and Mechanical Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems - EuroSimE 2004, May 2004, Brussels, Belgium. pp.305-309, ⟨10.1109/ESIME.2004.1304055⟩. ⟨hal-02347786⟩
Les progrès récents en sismique haute résolution - Outil complémentaire en génie civil pour la reconnaissance du proche sous-sol
Bogdan Piwakowski
GDR Ondes, Propagation des Ondes Sismiques : Modèles et Applications, 2004, Paris, France. ⟨hal-00248103⟩
Modélisation de la synthèse des poudres de taille nanométrique Si/C/N par pyrolyse laser
Mohamed Amara, M. El Ganaoui, D. Hourlier
Congrès Français de Thermique, SFT 2004 - Transferts en milieux hétérogènes, 2004, Giens, France. ⟨hal-00248022⟩
Evolution piézométrique et hydrochimique de la nappe de la craie suite à la fermeture des HBNPC dans les zones affaissées de l'ouest douaisien
F. Barrez, J. Mania, J.L. Mansy, F. Meilliez, Bogdan Piwakowski, Brigitte van Vliet-Lanoë
Actes des Journées Nationales de Géotechnique et de Géologie de l'Ingénieur, JNGGI 2004, 2004, Lille, France. ⟨hal-00247819⟩
Two Young modulus of Pb(Zr,Ti)03 thin films measured by nanoindentation
Patrick Delobelle, Olivier Guillon, E. Fribourg-Blanc, Caroline Soyer, Eric Cattan, Denis Remiens
Applied Physics Letters, 2004, 85(22), pp. 1-3. ⟨hal-00019767⟩
Sur la signification des valeurs du module d'Young déterminé par nanoindentation dans le cas des matériaux ferroélectriques
Patrick Delobelle, Olivier Guillon, E. Fribourg-Blanc, Caroline Soyer, Denis Remiens
2004. ⟨hal-00020033⟩
Transmission electron microscopy of silicides used in ALSB-SOI MOSFET structure
J. Katcki, J. Ratajczak, A. Laszcz, Emmanuel Dubois, G. Larrieu, X. Baie
2004, pp.479-482. ⟨hal-00147750⟩
Charge transport in DNA probed by C-AFM and EFM
T. Heim, D. Deresmes, D. Vuillaume
Materials Research Society Spring Meeting, 2004, San Francisco, CA, United States. ⟨hal-00140738⟩