Publications
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Acoustique picoseconde : un bref aperçu des recherches menées à l'IEMN
Arnaud Devos
3èmes Journées Ultrasons-Laser, 2005, Louvain, Belgique. ⟨hal-00125896⟩
Experimental and theoretical investigation of the mean acoustic pressure in the cavitation field
C. Campos-Pozuelo, C. Granger, C. Vanhille, A. Moussatov, Bertrand Dubus
Ultrasonics Sonochemistry, 2005, 12, pp.79-84. ⟨hal-00124473⟩
Système et technique de calibrage associée pour la mesure de paramètre S à 60 GHz
Kamel Haddadi, D. Glay, T. Lasri
Actes des 14èmes Journées Nationales Microondes, 2005, Nantes, France. ⟨hal-00126744⟩
Mise en œuvre d'un modèle physique électrothermique pour la simulation de transistors à effet de champ de puissance
Brahim Benbakhti, Michel Rousseau, Matthieu Werquin, Jean-Claude de Jaeger
Actes des 14èmes Journées Nationales Microndes, May 2005, Nantes, France. ⟨hal-00126750⟩
Récents résultats et perspectives du laboratoire TIGER dans le domaine des composants HEMT AlGaN/GaN
Sylvain Laurent Delage, Marie-Antoinette Di Forte-Poisson, M. Magis, J. Di Persio, Didier Theron, Maurice Tordjman, Jean-Claude de Jaeger, Jean-Claude Jacquet, Michel Rousseau, Raphaël Aubry, Christian Brylinski, Thierry Dean, Erwan Morvan, M. Francois
14èmes Journées Nationales Microondes, 2005, Nantes, France. ⟨hal-00126466⟩
High fractionnaly spaced constant modulus blind equalization for high order QAM signalling
A. Zaouche, Iyad Dayoub, Jean-Michel Rouvaen
2005, pp.176-180. ⟨hal-00126477⟩
Composants ultra rapides pour applications en ondes millimétriques et submillimétriques
S. Bollaert
2005. ⟨hal-00126202⟩
Etude de HEMT's AlInAs/GaInAs à désertion et enrichissement pour applications haute fréquence
V. Roucher
2005. ⟨hal-00126204⟩
Effet tunnel inélastique dans les jonctions silicium/alkylesilane/métal
C. Petit, G. Salace, S. Lenfant, D. Vuillaume
Journées des Polymères Conducteurs, 2005, Nantes, France. ⟨hal-00126218⟩
100-nm T-gate In0.53Ga0.47As-In0.52Al0.48As DG-HEMTs with two separate gate controls
Nicolas Wichmann, I. Duszynski, X. Wallart, S. Bollaert, A. Cappy
IEEE Electron Device Letters, 2005, 26, pp.601-603. ⟨hal-00125132⟩