Seminario del Departamento de Mecánica "Caracterización no destructiva de defectos cristalinos en muestras a granel".
Está usted cordialmente invitado a asistir al seminario de Antoine Guitton, profesor en LEM3, Universidad de Lorena.
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Le 18/06/2025
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10:00 - 11:00
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Seminario
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Campus de Mont Houy
Edificio CISIT
Anfiteatro Thierry Tison
La microscopía electrónica es una técnica muy utilizada para analizar las microestructuras y nanoestructuras de los materiales cristalinos. Hay dos tipos principales de microscopios electrónicos que proporcionan información complementaria: la microscopía electrónica de transmisión (MET) a escala micro/nano y la microscopía electrónica de barrido (MEB) a escala macro/mesoscópica.
La microscopía electrónica de transmisión (MET) es una técnica muy utilizada para analizar microestructuras y nanoestructuras de materiales cristalinos.
El TEM está bien establecido para caracterizar defectos cristalinos a escalas submicrónica y nanométrica en películas finas transparentes a los electrones (de unos 100 nm de grosor). Estos estudios detallados proporcionan información crucial para comprender el comportamiento macroscópico del material.
Sin embargo, la caracterización de los defectos cristalinos no se limita a las muestras de láminas delgadas observadas mediante TEM. El MEB también puede proporcionar contraste de difracción en materiales a granel a través de la canalización de electrones. Este fenómeno se produce cuando los electrones se desplazan a lo largo de los planos cristalinos, permitiendo una penetración más profunda antes de la dispersión. La variación en la retrodispersión variable de los electrones desde diferentes orientaciones del cristal genera contraste de orientación, lo que permite la obtención de imágenes de defectos cristalinos.
Defectos cristalinos.
Electron Channeling Contrast Imaging (ECCI) es una técnica no destructiva que permite obtener imágenes de defectos subsuperficiales (de hasta unos 100 nm de profundidad) en muestras a granel de tamaño centimétrico dentro de un SEM. La técnica aprovecha la significativa variación en el rendimiento de electrones retrodispersados (BSE) en función de la orientación del cristal con respecto al haz de electrones incidente o al eje óptico del SEM.
Gracias a estas capacidades, ECCI se ha convertido en una poderosa herramienta para explorar nuevas fronteras en la investigación fundamental e industrial. Esta presentación proporcionará una visión general de la técnica, cubriendo su física subyacente y sus diversas aplicaciones en estos campos.